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使用工業CT檢測鑄造件產品應注意的事項

發布日期:2024-05-13 作者: 點擊:

    使用工業CT檢測鑄造件時離開實際需要,片面追求個別的高指標更為有害,典型的就是片面追求高空間分辨率??臻g分辨率,密度分辨率和一個斷層圖像的平均產生時間這三項技術指標是互相制約的,一項指標的提高可能帶來其他指標的降低。對于空間分辨率也有一個認識上的誤區。有人以為探測器越小空間分辨率就一定更高,探測器數量越多系統越先進。這就使有些本來不適合使用面探測器,尤其是半導體芯片探測器的場合使用了這些探測器,不僅影響了總體性能,空間分辨率也沒有達到預想的結果??雌饋砩厦娴恼f法似乎不合邏輯,在這里值得注意的是理論空間分辨率的極限與實際系統在特定條件下空間分辨率并不永遠有良好的對應關系。如前面已經分析過的,決定系統理論空間分辨率的因素并不僅僅探測器寬度一項,還有別的因素;同時任何實際的測量都是在存在系統噪聲的條件下進行的,探測器越小通常帶來的是信噪比低,可以想象淹沒在噪聲中的圖像如何分辨細節呢?這樣上面的結論在很多實際情況下就合乎邏輯了。為了幫助理解這個問題,我們還可以數碼相機為例,一般說來相機好壞主要看鏡頭質量和芯片尺寸大小,并不簡單地是像素越多相機就越好;一般情況下在像素數目相同時,芯片尺寸越大越貴,也就是單個成像單元尺寸越大越好。毫無疑問,照片的清晰度是照相機的價格和質量的*基本因素。

    對于工業CT 設備,不可能在一次檢測中或一種工作條件下,使空間分辨率,密度分辨率和斷層圖像產生時間這三項技術指標上同時達到該設備的*高指標。由于工業CT 的很多技術指標是隨測試條件變化的,設備說明書給出的技術指標都是在特定的測試條件或買賣雙方所協商一致的條件下得到的,并不是任何條件下一成不變的。比起設備說明給出的指標,樣品實際指標有的會高一些,有的會低一些;甚至對于同一樣品,選用不同測試參數結果也不盡相同。例如,同一設備檢測較大的樣品得到的.技術指標就會比檢測較小的樣品時低一些,用檢測小樣品的要求檢測大樣品是不現實的,這是由物理學或數學等客觀存在的自然規律所決定的。從使用的角度考慮人們更應關心的是接近于實際使用時的技術指標;同時也應當優先接受公認的一些標準測試條件,便于對不同設備進行性能比較。要避免簡單地從孤立的個別數字上判斷系統的優劣??偟恼f來,在考察生產廠家提供的CT 圖像時,應當特別注意測試設備型號和技術條件

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關鍵詞:工業CT

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